ПРЕДПРИЯТИЕ ГОСКОРПОРАЦИИ «РОСАТОМ»

Электронные и оптические микроскопы

Электронный микроскоп Zeiss SUPRA55VP

Автоэмиссионный растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения Zeiss SUPRA55VP (Carl Zeiss AG, Германия) в комплекте с энергодисперсионным спектрометром Inca Energy 350, волновым спектрометром Inca Wave 500 и системой регистрации и анализа дифракции отраженных электронов HKL EBSD Premium System (Oxford Instruments, Великобритания).
Разрешение: при 15 кВ ... 1,0 нм; при 1 кВ ... 1,7 нм; при 100 В ... 4,0 нм;
системы HKL CHANNEL 5 (фазовое) ... 25 нм.
Диапазоны низкого вакуума: 1 ... 133 Па, что позволяет работать с непроводящими образцами. Режим работы на низких ускоряющих напряжениях (от 100В) гарантирует возможность исследования чувствительных к излучению образцов и сверхтонких образцов.

Если использование энергодисперсионных и волновых спектрометров является достаточно традиционным для аналитической сканирующей электронной микроскопии, то оснащение микроскопа системой для анализа картин дифракции обратнорассеянных электронов (системой HKL CHANNEL 5) пока встречается достаточно редко. Данная система позволяет проводить индексирование фаз, как с высокой, так и с низкой симметрией и анализ материалов с псевдосимметрией. Система имеет программы анализа текстур с применением методов полюсных фигур, обратных полюсных фигур, функций распределения ориентации/дезориентации в пространстве Эйлера и др. для любых кристаллических материалов. Система имеет широкий выбор баз данных кристаллографической информации.

Исследовательский комплекс оснащён и системой INCA Synergy - интегрированной системой на базе энергодисперсионного анализатора Inca Energy и EBSD HKL Channel 5 - для одновременного анализа структуры, текстуры и химического состава. Применение этой системы обеспечивает одновременное использование методов дифракции обратнорассеянных электронов и энергодисперсионного рентгеновского микроанализа для автоматической идентификации фаз и картирования (карты распределения фаз, карты ориентации кристаллитов, рентгеновские карты распределения элементов).

Электронный микроскоп XL 30 ESEM-TMP

Сканирующий дистанционный электронный микроскоп XL 30 ESEM-TMP (Philips, Голландия) в комплекте с системой микроанализа INCA AE 530 (энергодисперсионный и волновой спектрометры). Колонна микроскопа и спектрометры размещены в горячей камере. Разрешение: при 30 кВ ... 3,5 нм; при 1 кВ ... 25 нм.
Специальная система и детектор позволяющий проводить исследования в режиме низкого вакуума, в том числе проводить исследования непроводящих образцов.

Электронный микроскоп JEM 2000 FXII

Просвечивающий электронный микроскоп JEM 2000 FXII (JEOL, Япония) с системой рентгеновского микроанализа GENESIS XM 2 System 60 TEM, EDAX, США, укомплектован приставкой для сканирования электронного пучка, детектором вторичных и отражённых электронов, гониометром.

Позволяет:

  • проводить исследования дислокационной структуры, радиационных дефектов и выделений избыточных фаз в трансмиссионном режиме работы микроскопа на образцах в виде тонких фольг;
  • изучать структуру поверхности материалов в сканирующем режиме во вторичных и отражённых электронах;
  • проводить качественный и количественный анализ матрицы и частиц отдельных выделений в трансмиссионном и сканирующем режимах.

В качестве объектов исследований используют утонённые диски диаметром 3 мм или образцы с размерами 8х3х1,5 мм.

Микроскоп МИМ 15

Микроскоп исследовательский металлографический с дистанционным управлением МИМ 15 (НПО «ЛОМО», Россия). Микроскоп предназначен для исследования микроструктуры материалов, подвергшихся облучению. Обеспечивает возможность визуального наблюдения и фотографирования структуры металлов в светлом поле при прямом и косом освещении в темном поле и при поляризованном свете. Интересующее место фотографируется при требуемом увеличении (100, 200, 400, 600, 1000 dpi) и освещении.